WTS-3000

- ロジックIC検査装置
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本装置はテスターインテストヘッド構成を取っており、設計思想として水冷に頼らず空冷を貫きつつ、省電力ながら高速性能を維持し汎用ロジックIC検査は勿論、リニアデバイスIC検査にも対応させるデジタイザーを搭載可能としております。
ウエーハ―検査そしてチップ(ハンドラー)検査に対応する標準インターフェースを搭載し、性能の向上と量産・評価の現場において最適化された機能を有しております。
そのためSDGsを意識した高コストパフォーマンスな検査装置となります。
製品仕様
I/O周波数 | 50MHz/100MHz |
I/Oピン数 | 256Pin |
大きさ(cm) | 70(H)×60(W)×40(D) |
重量 | 55Kg |