半導体検査装置 製品ラインナップ

LCD/PDP/有機ELドライバIC検査装置

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  WTS-588D

  テスターインテストヘッド

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  WTS-9000

  ハイエンドLCD/有機EL 高速ドライバIC検査装置

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  WTS-577SR

  LCD/有機EL 高速ドライバIC検査装置

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  WTS-577

  LCD/PDP/有機ELドライバIC検査装置

デジタル出力CMOSイメージセンサー及びロジックIC検査装置

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  WTS-3000

  ロジックIC検査装置

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  WTS-677

  汎用ロジックICの検査装置

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  WTS-377

  デジタル出力CMOSイメージセンサーウエファ・ファイナル検査装置

ウエハ・アクセプタンス・テスト（WAT)検査装置

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  WTS-511

  ウエハ・アクセプタンス・テスト（WAT）

有機EL/LCD/LCOSアレイ/CCD/CMOSイメージセンサー検査装置

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  WTS-311NX

  ハイエンドCCD/CMOSイメージセンサー ウエファ・ファイナル検査装置

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  WTS-311

  有機EL/LCD/LCOS/CCD/CISアレイ・ウエファ検査装置

アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置

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  WTS-89

  小型アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置

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  WTS-750/800

  アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置

製造中止製品

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  WVM-701（製造中止）

  セル・モジュール表示検査システム

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  WTS-103C（製造中止）

  有機EL/LCD/LCOS/CCD/CISアレイ・ウエファ検査装置

その他テスト関連製品

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  WTS-YLFT01 HIFIX UNIT

  リソースボードと被測定デバイスの接続ユニット

非破壊検査装置

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  WTS-CT130

  マイクロCT X線照射3D断層撮影検査装置