テストバーンインシステム
テストバーンインシステム BI-T Series
デバイスをバーンインしながら、同時にデバイスのテストも出来るバーンインシステムです。
弊社では、半導体テスト技術とバーンイン技術を融合させ、他社バーンイン装置メーカーでは実現できない機能を提供させていただきます。
このシステムは、LSIテスタのテストパターンとのソフトウェアの互換を考えたテストバーンインシステムです。
コントロールユニットに当社LSIテストユニットを使用することにより、LSIテスタで使用しているテストパターンを利用できるので、完璧なテストバーンインシステムを実現できます。
上記製品仕様は弊社標準仕様ですが、お客様のご要望でのカスタマイズもお請けしております。
詳細につきましては弊社営業まで、お気軽にお問い合わせください。