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Company Profile Products Information
产品介绍
Organic EL / LCOS array / CCD / CMOS imagesensor Inspection equipment
WTS-311NX
WTS-311
Digital output CIS Inspection equipment
WTS-377
WTS-347
  Analog mixed-signal IC Inspection equipment
WTS-750/800
WTS-700
LCD / PDP / organic EL driver IC inspection equipment
WTS-577
exhibition information
Line up
     
 
WTS-311 LCD/OLED/LCOS Array/CCD/CIS测试机

关于此製品 [ Contact与我们联繫]
WTS-311 针对OLED、低温及高温多晶硅、非晶硅TFT array、LCOS、CCD、CMOS图像传感器晶圆用测试机。我们预期未来产品趋势、对高频率图像数据读取、复数Device的同时检测、图像数据快速传送等机能进行大幅度强化。已於2003年9月时开始供货。
对应Device : OLED、低温及高温多晶硅、非晶硅TFT array、LCOS(VGA~UXGA、全PIN、对应分割式探针台)、CCD、CIS
测试方式 :

DCS方式

处理方式 :

图像处理方式。比以往机种快四倍

驱动Pattern及频率 :

DC~80MHz

驱动电压 :

-10.24v~+20.47v

图像数据读取 :

最大8ch、3亿8000万画素/ch

DC参数检测 :

Shift Register、PerPin电流电压检测机能

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