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产品介绍

WTS-677

泛用邏輯IC檢測裝置

WTS-677是採用最新型的結構,設計為測試泛用邏輯 IC而開發出來的測試裝置。
Tester in Test Head的結構,實現了高速,省空間且價美等優點。
不單單只有泛用邏輯IC,WTS-677也能應對 Linear Device IC的檢測(實裝Option Degitizer時)。
WTS-677因特化於針對邏輯IC的測試進而大幅強化省電化的功效。

産品規格

能同時檢測的芯片數 標準2個~32個
高速數位 I/O Pin 標準500Mbps, 高速Serial 2Gbps 
Panel Driver
輸出判定Pin
±8V ±20V ±60V
對應Device 泛用邏輯IC
可同時並行測試數 1/2/4/8/16/32
最大構成 IO Board : 10  Slot (Max. 10 Slot)
OS Tester Computer : Windows 7
Test Program Microsoft Visual Studio 2008, C#